Aehr Test SystemsAEHR

Aehr Test 於 1977 年 5 月 25 日在加利福尼亞州成立。我們開發、製造和銷售旨在降低測試成本並執行可靠性篩?和壓力測試、燒錄或循環的解決方案，無論是同質還是異質邏輯和存儲半導體集成電路、傳感器、電源和光學設備。這些解決方案可用於同時執行封裝器件、單晶裸芯片或半導體器件進行測試和燒錄，同時仍處於晶片形式。不斷擴大的汽車、移動、網絡和電信市場需要滿足更高質量和可靠性規範的半導體設備。為了滿足這些需求，設備製造商正在增加產能並對其產品進行額外的測試和預燒，為Aehr Test的產品在封裝和晶圓級測試中創造機會。